Caracterización nanoestructural de superficies de discos ópticos mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)

Abstract

Este manual de prácticas de laboratorio está diseñado para guiar al alumnado en la caracterización nanoestructural de superficies de discos ópticos (CD, DVD, Blu-ray) mediante Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). A través de una metodología experimental detallada, se instruye en la preparación de muestras, adquisición de imágenes topográficas y análisis cuantitativo de estructuras como pits y lands. El documento incluye fundamentos teóricos del AFM, anatomía de los dispositivos de almacenamiento óptico (OSD), protocolos de escaneo, tratamiento de imágenes con software especializado (Gwyddion) y cálculos de capacidad de almacenamiento basados en parámetros físicos. Se promueve el desarrollo de competencias en instrumentación avanzada, análisis de datos y comprensión de la relación entre estructura y funcionalidad en materiales nanoestructurados.